数値計測（機構）

数値計測（機構）は、製造業において製品や部品の寸法や物理的特性を正確に測定するための技術です。これにより、製品の品質を一定に保ち、生産効率を向上させることができます。数値計測には、光学式、接触式、非接触式など様々な手法があります。
光学式測定では、光源からの光を反射させることで、対象物の形状や寸法を測定します。光学顕微鏡やレーザー干渉計が典型的な例です。接触式測定は、プローブやゲージを対象物に接触させ、物理的な変位を測定することで寸法や形状を評価します。三次元座標測定機（CMM）やノギスが代表的です。非接触式測定は、触れずに寸法や物理特性を測定する方法で、超音波、X線、電磁波などの技術が利用されます。
これらの数値計測技術は、各製造業の品質管理やプロセス改善に不可欠であり、精度と再現性を確保するために定期的な校正やメンテナンスが必要です。最適な測定手法の選択は、対象物の材料、形状、寸法、精度要求などに応じて行われます。